絕緣電阻測試（Megger 測試）怎麼做：測試電壓、步驟與判讀結果

2026年10月28日

重點整理

是什麼：絕緣電阻測試。儀器在導體與接地（或導體之間）施加直流測試電壓，並以百萬歐姆（MΩ）顯示結果。
開始前：斷電並隔離電路、確認無電壓，並拆下變頻器、PLC 等電子設備，因為高測試電壓可能損壞它們（Fluke）。
測試電壓：Megger 指南對額定 440–550 V AC 的設備列出 500 V 與 1,000 V DC，對 100 V 以下的設備列出 100 V 與 250 V DC。Fluke 的經驗法則是約為絕緣平常承受電壓的兩倍，不確定時選較低電壓。
讀數：施加電壓 60 秒（Megger 指南表示這是定點讀數通常建議的時間），並連同溫度一起記錄。
測試後：觸碰前先放電。Megger 指南建議放電時間約為施加測試電壓時間的四倍。
結果好不好：與同一設備先前的讀數比較。持續下降的趨勢比單一數值更重要（Megger）。

「Megger 測試」是許多電工對絕緣電阻測試的稱呼。Megger 是測試儀器製造商，也是註冊商標；其他品牌的絕緣電阻計（包括本文最後介紹的日本品牌 HIOKI 與 KYORITSU）也能做同樣的測試。本文依據 Megger 與 Fluke 公開的測試指南逐步說明，並介紹如何判讀結果。出處列於文末。

安全提醒：本文是一般性說明，不能取代訓練或您工作場所的規定程序。絕緣電阻計會產生高電壓，請遵守當地電氣法規、公司的上鎖程序與儀器說明書。

測試量測的是什麼

馬達、電纜或配電盤中的導體都包覆著絕緣，讓電流留在導體內。沒有完美的絕緣，總會有極小的電流穿過或沿表面漏出。絕緣電阻計施加直流電壓、量測這個微小電流，並以 MΩ 顯示電阻。良好的絕緣讀數高；潮濕、髒污或受損的絕緣讀數較低（Megger《A Stitch in Time》）。

為什麼不用三用電表？Fluke 說明，三用電表的電阻檔只使用幾伏特。絕緣需要以高於工作電壓的電壓測試，才能在受控條件下顯示漏電與電弧的跡象。絕緣電阻計提供高電壓，但嚴格限制電流。

安全第一：接線之前

讓設備停止運轉：關機、打開開關，並與其他設備和電路分離（Megger）。
確認無電壓：Megger 指南指出絕不可將絕緣電阻計接到帶電線路，並應檢查外來或感應電壓。許多儀器具備電壓檢查功能，例如 KYORITSU KEW 3431 商品頁列出可檢查至 600 V 的交直流電壓。
拆下電子設備：Fluke 的第一項建議是測試前拆下變頻器、PLC、傳送器等，因為高於平常的電壓可能損壞它們。
測試前後都要放電：電纜與繞組的電容可能儲存危險電荷。Megger 指南建議放電時間約為施加電壓時間的四倍，測試後至少 30 至 60 秒內不要拆下測試線。Fluke 建議停止測試時保持測試線連接，讓儀器釋放殘餘電壓。
不可在爆炸性環境使用：Megger 指南提醒，接線時、絕緣不良的測試中及電容放電時都可能出現輕微火花。
小心電擊感：Fluke 指出即使電流受限，絕緣電阻計仍可能產生火花和輕微但疼痛的灼傷，突然的刺激可能讓人猛然縮手，高處作業時要特別注意。

步驟 1：選擇測試電壓

測試電壓應對絕緣施加應力但不過度。Fluke 的經驗法則是約為絕緣平常承受電壓的兩倍（例如 460–600 V 的設備常以 1,000 V 測試），不確定時選較低電壓。設備製造商有指定時，以其指定為準。

例行維護常用的直流測試電壓（Megger）：

設備額定 100 V 以下：100 V 與 250 V
440 至 550 V：500 V 與 1,000 V
2,400 V：1,000 至 2,500 V 或更高
4,160 V 以上：1,000 至 5,000 V 或更高

無製造商資料時的 NETA 數值（Fluke 引用）：

額定 250 V：最低測試電壓 500 V，建議最低絕緣電阻 25 MΩ
600 V：1,000 V，100 MΩ
1,000 V：1,000 V，100 MΩ
5,000 V：2,500 V，1,000 MΩ
15,000 V：2,500 V，5,000 MΩ

HIOKI 指出，各種測試對象所需的電壓由各國標準規定，因國家而異，請遵循適用於您工作的標準。

步驟 2：檢查儀器與測試線

Megger 指南提醒，不良的測試線會導致錯誤的結果。接到設備前，先在測試線分開時操作儀器並確認顯示無限大，再將兩端碰在一起確認測試線沒有斷線。電池請依說明書檢查。

步驟 3：連接測試線

導體對地：在導體（繞組、加熱元件等）與外露金屬部分或接地之間測試（Megger）。端子的接法請依儀器說明書。
導體對導體：多芯電纜可將一條線對其他所有線與外皮（連在一起）測試（Megger）。
盡量一次測一項：Megger 指南說明，測試中包含的設備越多讀數越低，可能掩蓋待測物的真實絕緣電阻；建議將電纜兩端拆開單獨測試。

步驟 4：施加電壓並在 60 秒時讀數

定點讀數時，Megger 指南建議施加測試電壓一段短而固定的時間（通常 60 秒）並在結束時讀數。長電纜、馬達繞組等電容性設備的讀數會從低處逐漸上升。Fluke 表示穩定上升後趨於平穩屬正常，若讀數劇烈上下跳動則表示有電弧。每次測試同一設備時請使用相同電壓與相同時間（Megger）。

步驟 5：記錄結果並放電

Megger 指南建議為每台設備建立紀錄卡，記錄日期、讀數、儀器的量程、電壓與序號、設備溫度，以及溫度校正後的讀數。大型設備也建議記錄乾濕球溫度以了解濕度。之後依上述方式放電，再拆線或觸碰設備。

如何判讀結果

1. 趨勢比單一數值重要：Megger 指南視絕緣讀數為相對值。連續三天的讀數可能不同但不代表絕緣不良；重要的是長期的下降趨勢。即使高於建議最低值，持續下降仍是警訊；讀數穩定時，即使低於建議值也可能可以接受。

2. 最低值的經驗法則：

1 MΩ 法則（Megger）：每 1,000 V 運轉電壓約 1 MΩ，最低 1 MΩ。例如額定 2,400 V 的馬達應至少 2.4 MΩ。指南稱此法則有些武斷，但經過多年實務驗證。
NETA 最低值（Fluke 引用）：例如 600 V 設備以 1,000 V 測試時為 100 MΩ。
日本的法定最低值（HIOKI）：日本《電氣設備技術基準》第 58 條規定：對地電壓 150 V 以下為 0.1 MΩ，超過 150 V 至 300 V 為 0.2 MΩ，超過 300 V 為 0.4 MΩ。HIOKI 補充新安裝的設備最好至少 1 MΩ。這是日本的數值，請使用您所在地適用的標準。

3. 溫度校正：絕緣電阻隨溫度上升而下降。Megger 的經驗法則：溫度每升高 10°C 電阻減半，每降低 10°C 加倍；例如 20°C 時 2 MΩ，40°C 時約 0.5 MΩ。建議校正到 20°C 等基準溫度，或每次在相近溫度測試；Fluke 也建議以 20°C（68°F）為標準導體溫度或建立溫度基準。

4. 時間電阻測試：DAR 與 PI。良好絕緣的讀數會在數分鐘內持續上升；潮濕或受污染的絕緣因漏電使讀數保持平坦。Megger 指南表示時間電阻法相當不受溫度影響。

介電吸收比（DAR）：60 秒讀數 ÷ 30 秒讀數。
極化指數（PI）：10 分鐘讀數 ÷ 1 分鐘讀數。
危險：PI 小於 1
可疑：DAR 1.0–1.25、PI 1.0–2
良好：DAR 1.4–1.6、PI 2–4
優良：DAR 高於 1.6、PI 高於 4

Megger 指南稱這些數值是暫定且相對的；對於電容極小的設備（如短距離住宅配線），PI 1 至 2 也可能令人滿意；部分馬達的數值若比「優良」高約 20%，可能表示繞組乾燥脆化。Fluke 列出 IEEE 43-2000 的最低 PI：A 級絕緣 1.5，B、F、H 級 2.0。

5. 分段電壓測試：使用多電壓儀器時，可先以低電壓再以較高電壓測試，比例最好為 1 比 5（例如 500 V 與 2,500 V）。Megger 指南表示高電壓時讀數較低代表有弱點，在 1 比 5 的電壓比下約 25% 的變化通常是過多水分或其他污染所致。

常見錯誤

未拆下電子設備：變頻器、PLC、傳送器可能被測試電壓損壞（Fluke）。
一次測太多：迴路中的其他設備會降低讀數並掩蓋弱點（Megger）。
忽略表面漏電：髒污或潮濕的端子會形成表面漏電路徑，具 Guard 端子的儀器可將其排除（Megger）。
比較條件不同的讀數：電壓、時間或溫度不同的讀數難以比較（Megger）。
在露點以下測試：Megger 指南表示設備溫度高於露點時濕度影響不大，但水分可能在看得見之前就凝結在裂縫中。請記錄當時空氣乾燥或潮濕。
太早觸碰電路：先放電，並保持測試線連接讓儀器放電（Megger、Fluke）。
對潮濕設備使用高電壓：Megger 指南指出潮濕設備容易擊穿，建議至少在乾燥初期使用低電壓（100 或 250 V DC）。

為什麼看看日本的絕緣電阻計？

本店販售日本工具，因此以下介紹 HIOKI 與 KYORITSU 兩個日本品牌。以下是商品頁上可確認的事實，而非品質上的一般說法：

125 V 檔位：HIOKI IR4051-10、IR4052-50、IR4053-10 與 KYORITSU KEW 3552BT 除了 50、250、500、1,000 V 外，也列出 125 V。HIOKI 說明日本標準依測試對象規定測試電壓，因此需依對象選擇檔位。
類比或數位：KYORITSU KEW 3431 為類比刻度，無語言設定；HIOKI IR4051-10 與 KYORITSU KEW 3552BT 為數位機型。
日本製：以下 7 款商品頁的原產國皆為日本。

購買前請確認：多數為日本國內機型。是否取得您所在國家的認證（UL、CSA 等）除非商品頁列出，否則為 Not confirmed；KEW 3431 商品頁註明隨附說明書為日文，英文說明書可在 KYORITSU 網站取得。我們不主張這些儀器比其他品牌量測得更好，因為沒有找到比較測試。

7 款絕緣電阻計比較（規格取自各商品頁）

KYORITSU KEW 3431：類比，250 / 500 / 1,000 V，交直流電壓檢查至 600 V、自動放電、CAT III 600 V，約 430 g。
HIOKI IR4051-10：數位，50 / 125 / 250 / 500 / 1,000 V，帶電警告、放電功能、比較器、低電阻（導通），600 g。
HIOKI IR4052-50：顯示方式 Not confirmed，50 / 125 / 250 / 500 / 1,000 V，機身 152 × 92 × 42 mm、附收納盒，440 g。
KYORITSU KEW 3552BT：數位，50 / 100 / 125 / 250 / 500 / 1,000 V，藍牙通訊功能，490 g。
HIOKI IR4053-10：顯示方式 Not confirmed，50 / 125 / 250 / 500 / 1,000 V，太陽能系統用 PVΩ 模式（500 / 1,000 V），810 g。
KYORITSU KEW 3125B：附長條圖的大型顯示，250 / 500 / 1,000 / 2,500 / 5,000 V，自動計算 PI 與 DAR、Guard 線（G 端子）、輸出與放電電壓顯示，1.9 kg。
HIOKI IR5051：顯示方式 Not confirmed，250 / 500 / 1,000 / 2,500 / 5,000 V（10 V 或 25 V 一階設定），PV 絕緣電阻模式、三條 3 m 測試線，1.7 kg。

依用途選擇

建築配線與 480 V 級馬達：KEW 3431（含 Megger 與 NETA 為 600 V 以下設備列出的 500 V 與 1,000 V 測試，類比指針，詳見KEW 3431 介紹）、IR4051-10（數位、低電阻與導通功能）、IR4052-50（同樣五個電壓，更輕巧 440 g）。
低壓控制電路：KEW 3552BT 增加 100 V 檔，符合 Megger 表中 100 V 以下設備的 100 V 測試，並具藍牙通訊功能。測試前仍須拆下電子設備。
太陽能系統：IR4053-10 具 500 與 1,000 V 的 PVΩ 模式。
中壓設備與 PI 測試：KEW 3125B（最高 5,000 V，自動計算 PI 與 DAR，附 Guard 線）、IR5051（最高 5 kV、可調測試電壓與 PV 模式）。Megger 指南指出大型旋轉機械的時間電阻測試需要高電阻量程與非常穩定的測試電壓。

常見問題

Megger 測試就是絕緣電阻測試嗎？日常用語中是的。「Megger」是品牌與註冊商標，「Megger 測試」是以任何品牌絕緣電阻計測試絕緣電阻的通稱。

測試要多久？定點讀數 Megger 指南通常建議 60 秒。PI 測試需 10 分鐘（1 分鐘與 10 分鐘讀數），DAR 使用 30 秒與 60 秒讀數。

480 V 馬達用什麼電壓？Megger 例行維護表對 440–550 V AC 設備列出 500 V 與 1,000 V DC，Fluke 表示 460–600 V 設備常以 1,000 V 測試。馬達製造商有指定時以其為準，並先拆下變頻器。

多少讀數算好？沒有單一數值。經驗法則包括 Megger 的 1 MΩ 法則（每 1,000 V 運轉電壓約 1 MΩ，最低 1 MΩ）與 Fluke 引用的 NETA 最低值（例如 600 V 設備以 1,000 V 測試時 100 MΩ）。Megger 指南強調比較經溫度校正的長期讀數。

測試會損壞設備嗎？Megger 指南表示直流絕緣測試對絕緣是非破壞性的。電子設備則不同：Fluke 提醒變頻器、PLC、傳送器可能被高於平常的電壓損壞，請先拆下。對潮濕設備，Megger 指南也建議使用低測試電壓。

可以用三用電表做嗎？無法以相同方式進行。Fluke 說明三用電表的電阻檔只使用幾伏特，無法準確反映絕緣狀態；絕緣需以高於工作電壓的電壓測試。

出處

最後審閱：2026 年 10 月。「Megger」為註冊商標；本文與 Megger、Fluke、HIOKI、KYORITSU 無合作關係。

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